蘇州>蘇州市曼威斯光學儀器有限公司>供求信息

廠家供應電腦型明暗場微分干涉DIC 導電粒子KCF檢測金相顯微鏡 

MWS-JXP8002型號DIC金相顯微鏡，F(xiàn)PD檢查顯微鏡，應用與LCD行業(yè) / TFT玻璃 / COG導電粒子壓痕、粒子爆破檢查。 

兩檔式正像鉸鏈三目觀察筒，保證樣品的移動方向與您通過目鏡觀察到的方向一致，使操作更加得心應手。

三檔式鉸鏈三目觀察筒，在成像光線100%用于雙目觀察或三目攝影的基礎上，增加一檔20%用于雙目觀察，80%用于顯微攝影，方便用戶同時對鏡下圖像與視頻圖像進行對比觀察 ，微分干涉物鏡充低倍到高倍,都能得到清晰平坦的微分干涉顯微圖像。使用人員只需在正交偏光的基礎上插入DIC棱鏡即可進行明視場DIC微分干涉觀察。使用DIC技術可以讓物體表面微小的高低差產(chǎn)生明顯的浮雕效果極大的提高圖像的對比度。同時也可以在不用更換暗場物鏡的情況下實現(xiàn)暗場觀察操作既方便也節(jié)省另外購置暗場物鏡的成本。 

 儀器特點

• MWS-JXP8002型號DIC微分干涉金相顯微鏡其微分干涉效果可與進口品牌相媲美 
• MWS-JXP8002型號DIC微分干涉金相顯微鏡機型采用長工作距物鏡、半復消色差技術多層寬帶鍍膜技術采用長壽命LED光源
• 多種高度功能化的附件能滿足各種檢驗需要可用于明場、簡易偏光、微分干涉觀察
• 曼威斯工程師研發(fā)的長工作距離金相物鏡高倍物鏡采用半復消技術。
• 各種觀察方法下都能得到清晰銳利與高對比度的顯微圖像。
• MWS-JXP8002型號DIC微分干涉金相顯微鏡采用左右低手位粗微同軸調(diào)焦機構，帶松緊調(diào)節(jié)裝置。粗調(diào)行程25mm，微調(diào)精度1um，可用于測量Z軸方向極細微物體的高度，如錫球。右手位平臺，帶鎖緊裝置大行程機械平臺，適用范圍廣。帶Y軸移動鎖定功能，完全鎖緊后限制Y軸的移動，可用于橫向檢測，防止陣列器件檢測時出現(xiàn)漏檢現(xiàn)象。玻璃載物臺板可用于透射光觀察。

 配置U-DICR微分干涉組件，可以將明場觀察下無法檢測的細微高低差，轉(zhuǎn)化為高對比度的明暗差并以立體浮雕形式表現(xiàn)出來，如LCD 導電粒子，精密磁盤表面劃痕等。