工作試驗 選購指南
GJB150.4A-2009低溫環(huán)境試驗檢測報告
GJB150.4A-2009低溫環(huán)境試驗檢測報告 GJB150.4A低溫試驗 低溫環(huán)境試驗 低溫貯存試驗 低溫工作試驗 干冷試驗 冰凍試驗 極限低溫溫度試驗服務(wù) 國家級權(quán)威檢測機(jī)構(gòu) 專業(yè)定制化一對一低溫環(huán)境適應(yīng)性測試技術(shù)服務(wù) 提供中文檢測報告或英文檢測報告。 低溫試驗?zāi)康模? 在于評價在貯存，工作和拆卸操作期間，低溫條件對裝備的安全性，完整性和性能的影響。 低溫試驗可能引起的失效： 1、材料的硬化和脆化； 2、對溫度瞬變響應(yīng)中，不同......
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北京電工電子電路板環(huán)境應(yīng)力篩選試驗
北京電工電子設(shè)備/電路板環(huán)境篩選試驗 我實(shí)驗室致力于各類電工電子設(shè)備、電路板、板卡、各類儀器儀表，測量儀器等設(shè)備的環(huán)境篩選試驗。 環(huán)境篩選試驗適用于設(shè)備在設(shè)計制造完成后進(jìn)行，目的在于考察采用的元器件是否達(dá)到出廠、接收方驗收的基本使用條件。一般分為功能性試驗、高低溫貯存試驗、高低溫工作試驗、溫度循環(huán)試驗、老煉試驗等，具體試驗條件可依據(jù)設(shè)備自身及現(xiàn)場安裝環(huán)境、接收方技術(shù)要求以及產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)來制定。 環(huán)境篩選試驗一般采用GJB1032-1990《電子產(chǎn)品環(huán)境......
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