測(cè)試
所有分類下結(jié)果無接觸硅片厚度TTV電阻率綜合測(cè)試系統(tǒng)
[中介]PV-1000系列無接觸硅片厚度TTV電阻率綜合測(cè)試系統(tǒng)為太陽(yáng)能/光伏硅片及其他材料提供快速、多通道的厚度、（總厚度變化）TTV、翹曲及無接觸電阻率測(cè)量功能。并提供基于TCP/IP的數(shù)據(jù)傳輸接口及基于Windows的控
藍(lán)寶石圓度測(cè)試儀
[中介]RA2000是一種操作簡(jiǎn)便的測(cè)量?jī)x，用于對(duì)工件的幾何尺寸特別是圓度進(jìn)行精確測(cè)量。此設(shè)備保證測(cè)量的準(zhǔn)確性，為產(chǎn)品品質(zhì)提供專業(yè)的保障。
無接觸體電阻率型號(hào)測(cè)試儀
[中介]產(chǎn)品介紹
HS-TRM-100型無接觸式電阻率型號(hào)測(cè)試儀是基于渦流（Eddy Current）測(cè)試技術(shù)，能夠?qū)枇稀⒐璋簟⒐桢V及硅片進(jìn)行無接觸、無損傷的體電阻率測(cè)試。
太陽(yáng)能光伏電池IV特性分析系統(tǒng)
[中介]太陽(yáng)能光伏電池的所有性能表征手段中，IV特性測(cè)試無疑是最直觀、最有效、最被廣泛應(yīng)用的一種方法。PH-SIV100通過測(cè)量IV特性曲線，對(duì)數(shù)據(jù)分析處理，可以直接得到光伏電池的各項(xiàng)物理性能。為光伏電池的研究、
無接觸厚度TTV電阻率綜合測(cè)試系統(tǒng)
[中介]HS-T50無接觸厚度TTV電阻率綜合測(cè)試系統(tǒng)是一款廣泛應(yīng)用于太陽(yáng)能電池片制造過程中對(duì)表面厚度TTV電阻率無損測(cè)量的專業(yè)儀器。該儀器適用于Si，GaAs，InP，Ge等幾乎所有的材料，所有的設(shè)計(jì)都符合ASTM(美國(guó)材料
單點(diǎn)少子壽命測(cè)試儀
[中介]HS-CLT少子壽命測(cè)試儀是一款功能異常強(qiáng)大的少子壽命測(cè)試儀，不僅適用于硅片少子壽命的測(cè)量，更適用于硅塊、硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶等多種不規(guī)則形狀硅少子壽命的測(cè)量。少子測(cè)試量程從1μs到2000
硅材料綜合測(cè)試儀
[中介]硅料綜合測(cè)試儀HS-PSRT
本儀器是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多功能綜合測(cè)試裝置，它可以測(cè)量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率，適用于半導(dǎo)體及太陽(yáng)能行業(yè)的篩選。
硅料綜合測(cè)試儀 - 產(chǎn)品特點(diǎn)
■ 同時(shí)檢
無接觸少子壽命掃描儀
[中介]HS-MWR-2S-3無接觸少子壽命掃描儀是一款功能異常強(qiáng)大的無接觸少子壽命掃描儀，能夠?qū)尉Ч璋簟⒍嗑Ч鑹K及硅片提供快速、無接觸、無損傷、高分辨率的多功能掃描測(cè)試，其通過微波光電衰退特性原理來測(cè)量非平
便攜式熱像光能檢測(cè)儀
HS-FT320便攜式熱像檢測(cè)儀利用紅外熱成像技術(shù)，對(duì)被檢測(cè)物體的熱紅外輻射探測(cè)，并加以信號(hào)處理、光電轉(zhuǎn)換等手段，將標(biāo)的物的溫度分布的圖像轉(zhuǎn)換成可視圖像的檢測(cè)設(shè)備。常用于機(jī)房，光伏電站，配電室，發(fā)電機(jī)，工業(yè)爐，電氣生產(chǎn)設(shè)備等監(jiān)控、故障的預(yù)防和排除。合能陽(yáng)光針對(duì)光伏行業(yè)特點(diǎn)，開發(fā)的便攜式熱像檢測(cè)儀，對(duì)光伏組件工作檢測(cè)和光伏電站運(yùn)行情況監(jiān)測(cè)，具有靈敏度高，測(cè)試溫度廣，容易操作，測(cè)試精準(zhǔn)等特點(diǎn)。
[北京 儀器儀表]
硅片表面線痕深度測(cè)試儀
[中介]HS-SRT-301型硅片線痕深度測(cè)試儀可用于測(cè)試硅片的表面線痕深度，具有便于攜帶、觸摸屏便捷操作、液晶顯示、節(jié)能等優(yōu)點(diǎn)，同時(shí)內(nèi)置打印機(jī)和充電電池，所有設(shè)計(jì)均符合JIS,DIN,ISO,ANSI等標(biāo)準(zhǔn)。
